原理图如上图，画的有点小有点难看，请多多包涵
采用了自举驱动方式，用四个HCPL-3120光耦驱动四路MOSFET（IRFP460）形成的全桥电路，负载暂且用300Ω电阻进行测试
两组电源分别接到两组上下桥驱动光耦，一组电源接到上桥臂的D极与下桥臂的S极，最后三个电源的负极都接在一起
用示波器分别测输出端 a 点与 b 点的波形（相对于地）
示波器调节衰减10倍测量波形，暂且不管尖峰问题
加快采样频率：
上桥臂的门极与源极的波形：
两组上桥臂的门极波形：
两组下桥臂的门极波形：
很明显，采用自举驱动方式之后，驱动上桥臂门极的信号得到放大，且以S极作为参考，GS之间得到一个10V左右的驱动电压
那么这个全桥电路应该算是在工作了
但是驱动下桥臂的两个光耦发热情况比驱动上桥臂的严重，虽然不至于会很烫，但个人认为长时间工作的话不能接受
请问对于下桥臂的驱动电路要怎么修改才能得到改善呢？还是说全桥电路未能正常工作，还存在着其他
