现在需要对一些LED芯片进行缺陷识别,如下图
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、图片说明](https://img-ask.csdn.net/upload/201802/01/1517422340_806002.png)图片说明](https://img-ask.csdn.net/upload/201802/01/1517422331_426354.png)图片说明](https://img-ask.csdn.net/upload/201802/01/1517422317_828189.png)

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目标任务是识别图片里的 黑点 和线状异物 ,目前的方法是 原图-灰度化-滤波-边缘提取 该算法最后的结果如下:

这种处理过后只是把边缘检测出来 希望把边缘内部缺陷也保留
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对一些黑点识别到这样子 结果很一般,希望各位大神能在图像处理的流程上面给一些建议,比如说是否需要阈值分割 或者 边缘提取之后还可以做些什么之类的
一些处理比较好的图片(不知道具体处理流程)如果可以还原一下算法就更好了,或者最终可以达到这个效果


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