问题:
如何在一段时间内,测出DFT模式下Scan扫描测试链中,有多少个Scan_dff触发器被单粒子照射发生了翻转?要确定每个scan_dff触发器是否发生了翻转。
背景:
现在需要对一个芯片进行单粒子试验,需要看看改芯片在照射下,一段时间内发生翻转的次数。
DFT模式scan测试,如何一条链上的排除每个dff触发器是否发生错误?
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