ADS中有关DAC控件的使用问题

Question

我最近ADS仿真时遇到了一个问题，我想通过DAC控件提取匹配网络的端口阻抗参数，但是当我每个DAC控件中扫描较多点或匹配网络中扫描的元件数过多时会发生仿真器卡死的情况，不知道有没有什么办法解决，
我使用的是ADS2020版本，目前我只能对三个元件参数进行扫描，每个元件的参数扫描点为300个，高于这一扫描数，ADS仿真器便会未响应。
我希望能对匹配网络中6个以上的元件进行参数扫描，从而获取端口阻抗，每个元件的扫描参数值在5000个点左右。
由于我后续希望将提取的端口阻抗值作为我后续数据集通过神经网络训练来拟合端口阻抗随元件参数的变化趋势，所以希望能尽可能多的设置元件参数扫描点，以获取较多的端口阻抗，尽量覆盖史密斯圆图区域并使神经网络的训练结果尽可能准确。

Answer 1

该回答引用ChatGPT
_请参考下面的解决方案，如果有帮助，还请点击 “采纳” _
首先，增加元件参数扫描点数或元件数目，会增加仿真复杂度，对仿真速度和系统资源的要求也相应增加。
你可以尝试以下几种方法来提高仿真速度：
1、使用更高配置的计算机，如换用更快的处理器，更多的内存，等。
2、优化仿真算法，例如使用更高效的算法代替基于单步模拟的算法。
3、降低扫描点数，例如降低每个元件的扫描点数。
4、使用多线程技术，在多个仿真器之间分配任务，以加快仿真速度。
如果你对以上方法还有困惑，建议你向经验丰富的电磁仿真工程师寻求帮助。