目前在做一款心电信号采集的设备，在使用EFT测试机测试时， 遇到了以下两个问题。
第一个问题：
测试内容：
耦合电源： ±1800V，±2000V，±2200V
耦合路径：L,N,PE
脉冲群周期：300ms
脉冲持续时间：75
频率：5KHz
总时间共计120秒，前60秒正脉冲，后60秒负脉冲。
测试电路：
电脑USB2.0接口供电和通讯，采用12导联信号线。
USB电源经过331共模电感，接Y型电容； 信号线经过共模电感，对地电容未接，差分等长阻抗匹配。
隔离后的电源经过LDO进入单片机，信号通过光耦隔离进入单片机。
TVS使用双向TVS管。
测试问题：
前60秒正脉冲时间段信号波形影响变化很小，后60秒负脉冲信号波形影响变化很大，在进入负脉冲时间段内老是出现问题（问题情况为USB转FT232芯片出问题，FT232芯片复位下就可以继续)。后来我在USB加了磁环后，测试可以通过，但是负脉冲影响波形变化对比正脉冲大。
这个是什么原因引起，不想加磁环还有什么办法解决吗？
第二个问题：
测试内容：
同轴测试： ±1000V
耦合路径：耦合夹
脉冲群周期：300ms
脉冲持续时间：75
频率：5KHz
总时间共计120秒，前60秒正脉冲，后60秒负脉冲。
测试电路：
电脑USB2.0接口供电和通讯，采用12导联信号线。
USB电源经过331共模电感，接Y型电容； 信号线经过共模电感，对地电容未接，差分等长阻抗匹配。
隔离后的电源经过LDO进入单片机，信号通过光耦隔离进入单片机。
TVS使用双向TVS管。
心电信号采用了放电管，电路板使用洋白铜屏蔽。耦合夹距离设备20厘米。耦合夹空间辐射根据厂家描述可以达到2米范围。
测试问题：
整个时间段信号波形影响变化很大，同样在进入负脉冲时间段内老是出现问题（问题情况为USB转FT232芯片出问题，FT232芯片复位下就可以继续)。目前受耦合夹空间辐射，USB采用了双层屏蔽的USB3.0的线缆，加了磁环还是有问题。这个是什么原因引起，有什么办法解决吗？
