EMC电流法测试电磁环境背景

Question

在屏蔽室内进行EMC的电流法的电磁环境背景测量：
1）待测物品断电不运行，电流探头内不穿过任何线束，测量得到的 电磁环境背景 ＜ 标准限值6dB，结论：ok；

2）待测物品断电不运行，电流探头内穿过无氧纯铜铜芯导线，测量得到的 电磁环境背景：

3）待测物品断电不运行，电流探头内穿过LVDS同轴线，测量得到的 电磁环境背景：

请问为何出现第2）、第3） 种情况

Answer 1

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EMC电流法测试电磁环境背景分析

根据您提供的EMC电流法测试情况，我来分析第2)和第3)种情况出现的原因：

测试情况总结

1. 基础情况：电流探头空载时，电磁环境背景 < 标准限值6dB (正常)
2. 情况2：穿过无氧纯铜铜芯导线时，背景噪声变化
3. 情况3：穿过LVDS同轴线时，背景噪声变化

原因分析

情况2) 穿过无氧纯铜铜芯导线时背景变化的原因

1. 天线效应：铜芯导线作为导体，可能成为接收天线，耦合环境中的电磁噪声

   • 即使设备断电，导线仍可能接收空间辐射干扰
   • 导线的长度、走向会影响接收效率

2. 传导路径形成：导线的引入可能建立了新的传导路径

   • 将原本不相关的噪声传导至测试系统
   • 可能形成接地环路引入额外干扰

3. 阻抗匹配变化：电流探头的负载特性因导线加入而改变

   • 影响探头的频率响应特性
   • 可能导致某些频段灵敏度变化

情况3) 穿过LVDS同轴线时背景变化的原因

1. 屏蔽层影响：LVDS同轴线的屏蔽层可能产生双重效应

   • 正面：屏蔽外部干扰(可能降低某些频段噪声)
   • 负面：屏蔽层本身可能因接地不良成为辐射源

2. 传输线效应：同轴线的高频特性可能导致

   • 特定频率的驻波或反射
   • 高频噪声的耦合增强

3. 连接器影响：同轴线的连接器可能引入

   • 接触阻抗不连续
   • 高频信号的反射和辐射

解决方案建议

1. 验证测试：

   # 伪代码 - 测试方案建议
   def verify_background_noise():
       确保所有连接器紧固可靠
       检查接地系统完整性
       尝试不同导线长度和走向
       对比不同线缆类型的结果
   

2. 改进措施：

   • 确保所有线缆远离可能的干扰源
   • 检查屏蔽室的屏蔽效能
   • 验证接地系统的质量
   • 考虑使用铁氧体磁环抑制共模噪声

3. 测试记录建议表格：

   测试条件	线缆类型	长度	走向	背景噪声水平	备注
   空载	-	-	-	<限值-6dB	基准
   情况2	纯铜线	1m	水平	...	...
   情况3	LVDS线	1m	垂直	...	...

这种差异通常是正常现象，关键在于确认背景噪声的变化是否在可接受范围内，以及是否会影响后续的实际测试结果。