如何准确测量STM32模拟时序中的高低电平持续时间？

Question

在嵌入式开发中，如何准确测量STM32模拟时序中的高低电平持续时间是一个常见且关键的问题。由于模拟信号易受噪声干扰，直接使用GPIO读取可能造成误判。常见的技术问题包括：如何选择合适的ADC采样率以捕捉电平变化？是否应采用硬件比较器辅助判断阈值？如何结合定时器实现高精度时间测量？此外，还需考虑信号调理、滤波算法及中断响应延迟对测量精度的影响。合理设计软硬件协同机制是确保测量准确的核心。