MEMTEST86 报错怎样确定到 颗粒里面的行和列

Question

MEMTEST86 报错怎样确定到 颗粒里面的行和列 chip rank bank row colum
decode_adl - C(151CCDFC4,00001000,1,0,-1,0,0)
2025-09-18 10:15:53 - [MEM ERROR - Data] Test: 3, CPU: 2, Address: 151CCDFC4/B1, Expected: 00000000, Actual: 00001000
2025-09-18 10:15:53 - decode_adl - C(16069FA74,00004000,1,0,-1,0,0)
2025-09-18 10:15:53 - [MEM ERROR - Data] Test: 3, CPU: 10, Address: 16069FA74/B1, Expected: 00000000, Actual: 00004000
2025-09-18 10:15:53 - decode_adl - C(17469D764,00000200,1,0,-1,0,0)
2025-09-18 10:15:53 - [MEM ERROR - Data] Test: 3, CPU: 0, Address: 17469D764/B1, Expected: FFFFFFFF, Actual: FFFFFDFF
2025-09-18 10:15:53 - decode_adl - C(156A43C74,00004000,1,0,-1,0,0)
2025-09-18 10:15:53 - [MEM ERROR - Data] Test: 3, CPU: 4, Address: 156A43C74/B1, Expected: 00000000, Actual: 00004000
这是memtest86的一段错误日志，其中decode_adl - C(156A43C74,00004000,1,0,-1,0,0)是什么意思？能不能看出颗粒里面的行和列。

Answer 1

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根据MEMTEST86的输出信息，特别是decode_adl - C(151CCDFC4,00001000,1,0,-1,0,0)2025这一行，我们可以看到以下信息：

• 151CCDFC4 是颗粒的地址
• 00001000 是 bank 的地址
• 1 是 row 的地址
• 0 是 column 的地址
• -1 是 rank 的地址
• 0 是其他信息
• 2025 是其他信息

根据这些信息，我们可以确定到颗粒里面的行和列：

• 行（Row）：1
• 列（Column）：0

因此，MEMTEST86 报错的原因可能是位于颗粒的第 1 行，第 0 列的内存单元出现了问题。