主控:STM32F405RGT6
使用STM32CubeMX进行硬件配置:
ADC1的1(PA1),2(PA2),3(PA3)通道独立模式采样,TIM8控制采样率为200 kHz(时钟168MHz),DMA循环采样模式,双缓冲,每个通道15CyCles+12Cycles(时钟21MHz);
ADC2的6(PA6)通道进行温度采样,软件触发,3Cycles+12Cycles(时钟21MHz);
TIM2输出PWM(PA5),40 Hz控制,占空比~16%,时钟84MHz
在实际测试过程中,PWM脉冲会影响ADC1的采样,PWM的频率为40Hz,即25ms周期,而ADC1的每个通道一个半缓冲4000点的时间为20ms,ADC1连续采样。经示波器以及软件测试,明确了是PWM的上升沿和下降沿影响了ADC1采样,在这两个瞬时时刻会产生采样值突变,请问这个要怎么解决呢?