不想取名啊791 2026-01-16 16:54 采纳率: 0%
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PWM开关影响ADC采样值突变问题

主控:STM32F405RGT6
使用STM32CubeMX进行硬件配置:
ADC1的1(PA1),2(PA2),3(PA3)通道独立模式采样,TIM8控制采样率为200 kHz(时钟168MHz),DMA循环采样模式,双缓冲,每个通道15CyCles+12Cycles(时钟21MHz);
ADC2的6(PA6)通道进行温度采样,软件触发,3Cycles+12Cycles(时钟21MHz);
TIM2输出PWM(PA5),40 Hz控制,占空比~16%,时钟84MHz

在实际测试过程中,PWM脉冲会影响ADC1的采样,PWM的频率为40Hz,即25ms周期,而ADC1的每个通道一个半缓冲4000点的时间为20ms,ADC1连续采样。经示波器以及软件测试,明确了是PWM的上升沿和下降沿影响了ADC1采样,在这两个瞬时时刻会产生采样值突变,请问这个要怎么解决呢?

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  • 紫雾凌寒 新星创作者: 人工智能技术领域 2026-01-16 16:54
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    1. 关键点分析:
      - 问题核心在于PWM开关导致ADC采样值突变。STM32F405RGT6中,ADC1的多个通道独立采样,TIM8控制采样率,出现这种突变现象可能涉及到PWM信号与ADC采样之间的干扰。
      - 可能原因包括:PWM信号的高频谐波影响了ADC输入引脚的信号质量,导致采样值异常;ADC采样时的时序与PWM信号的开关动作存在冲突等。
    2. 解决方案:
      - 硬件滤波
      • 在ADC输入引脚(PA1、PA2、PA3)上添加硬件滤波器。例如,可以使用低通滤波器来滤除PWM信号的高频成分。简单的RC低通滤波器电路如下:
        c // 假设R = 10kΩ,C = 1uF const float R = 10000.0f; const float C = 0.000001f; float fc = 1.0f / (2.0f * 3.14159f * R * C); // fc为截止频率,根据实际情况调整,一般要低于PWM信号频率的一半
      • 连接方式:将电容一端连接到ADC输入引脚,另一端接地,电阻一端连接到ADC输入引脚,另一端连接到VCC。
      • 优化采样时序
      • 确保ADC采样在PWM信号稳定的时间段内进行。可以通过TIM8的中断或者DMA传输来控制采样时机。
      • 例如,在TIM8的中断服务函数中启动ADC采样:
        c void TIM8_IRQHandler(void) { if(__HAL_TIM_GET_FLAG(&htim8, TIM_FLAG_UPDATE)!= RESET) { __HAL_TIM_CLEAR_FLAG(&htim8, TIM_FLAG_UPDATE); // 启动ADC采样 HAL_ADC_Start(&hadc1); } }
      • 同时,在ADC的DMA传输完成回调函数中处理采样数据,避免在PWM信号切换时进行数据处理:
        c void HAL_ADC_ConvCpltCallback(ADC_HandleTypeDef* hadc) { // 处理ADC采样数据 uint32_t adc_value = HAL_ADC_GetValue(hadc); // 进行后续数据处理 }
      • 电磁屏蔽
      • 将ADC引脚和PWM信号走线进行合理布局,尽量减少相互干扰。可以使用金属屏蔽罩来屏蔽电磁干扰。
      • 在STM32CubeMX中,合理规划引脚的电气层和布线规则,例如将ADC引脚和PWM相关引脚分开不同的层或者区域。
    3. 多种解决方案的优缺点:
      - 硬件滤波
      • 优点:简单直接,能有效滤除高频干扰信号,对PWM信号的干扰有较好的抑制作用。
      • 缺点:会影响信号的上升和下降沿速度,可能导致信号失真,并且截止频率的选择需要根据实际情况调试,不合适的参数可能无法达到理想效果。
      • 优化采样时序
      • 优点:从软件层面解决问题,不改变硬件电路,灵活性高,可以根据不同的PWM频率和ADC采样需求进行调整。
      • 缺点:对程序的时序要求较高,如果时序控制不当,仍然可能无法完全解决问题,并且需要对PWM和ADC的工作原理有深入理解才能正确实现。
      • 电磁屏蔽
      • 优点:从根本上减少电磁干扰的影响范围,能有效降低干扰的可能性,对整个系统的电磁兼容性有较大提升。
      • 缺点:需要增加硬件成本,并且在硬件设计阶段就需要考虑屏蔽措施,后期更改难度较大。
    4. 总结:
      - PWM开关影响ADC采样值突变是一个在STM32系统中常见的电磁干扰问题。通过硬件滤波、优化采样时序和电磁屏蔽等多种方法,可以有效地解决这个问题。在实际应用中,需要根据具体情况综合考虑各种方法的优缺点,选择最合适的解决方案来确保ADC采样的准确性和稳定性。例如,如果硬件成本允许且干扰较为严重,可以优先考虑电磁屏蔽;如果对硬件改动要求小,可以先尝试优化采样时序,再结合硬件滤波来解决问题。

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  • 创建了问题 1月16日